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美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片

簡要描述:

美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案,適用于各種品牌的X射線測厚儀(涂鍍層厚度測試儀)。用于標定X射線測厚儀

更新時間:2023-04-24

品牌Calmetrics/美國貨號HxNi/xx
規(guī)格Ni/xx供貨周期現(xiàn)貨
主要用途標定X射線測厚儀應用領域環(huán)保,化工,能源,電子
品牌美國CALMETRICS
  美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片簡介:
  Calmetrics是美國原廠制作標準片的專業(yè)認證公司,其專門為儀器大廠如Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)、ELEC FINE (日本電測)Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer等生產(chǎn)制作標準樣品。
  美國Calmetrics公司專業(yè)生產(chǎn)X射線熒光鍍層薄膜標準件及元素含量標準件,提供對標準件的校準服務,公司通過ISO/IEC17025認證。公司提供所有證書符合NIST (National Institute of Standards and Technology美國國家標準與技術研究院)標準或ANSI (American National Standards Institute美國國家標準學會)標準。
  其生產(chǎn)的標準片質量精良,精度高、穩(wěn)定性好。 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片,專業(yè)用于X射線測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法,是測量已知厚度或組成的標準樣品,根據(jù)熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系,來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品,以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
  標準片分單層標準片、雙層標準片、多層標準片,其中單層標準片又可分為單元素標準片、單元素薄片鍍在底材上、純元素底材標準片、合金薄片、合金鍍在底材上等。可根據(jù)客戶個性化需要定制。所有標準片都附有NIST認證證書我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結構及鍍層厚度等要求向美國工廠定做合格的標準片,并附有標準片厚度值證書.



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       美國Calmetrics NI/xx 鍍層標準片用于標定X射線測厚儀
  Calmetrics鍍層標準片適用于各種品牌的X射線測厚儀(涂鍍層厚度測試儀),例如:Fischer(菲希爾)、Oxford(牛津)、Seiko(精工)ELEC FINE (日本電測)、Thermo(熱電)、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray測厚儀(膜厚計)。
       美國Calmetrics NI/xx鍍層標準片規(guī)格列表:
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